Üniversitemiz | Anasayfa | İletişim
 

Hızlı Menu

-Yönetim

-Personel

-Cihazlar

-Analiz Talep Formları 

-Analiz Ücretleri

 

Bilgisayar Kontrollü X-Işınları Difraktometreleri (XRD, Rigaku)

 

Rigaku RINT-2000: Standart numune tutucu ile bir yapının amorf ya da kristal özellikte olup olmadığını belirlemek için CuKα radyasyonunun kullanıldığı bir cihazdır.

 

Genel Özellikler:  

Kullanılan Radyasyon: CuKα

Çalışma Voltaj Aralığı: 20 – 60 kV

Çalışma Akım Aralığı: 2 – 80 mA

Çalışma Açı Aralığı: 2 - 80°

 

Yapılan Uygulamalar*:

X- Işını difraksiyon desen çekimi (bulk ve toz numuneler için1)

X- Işını difraksiyon desen çekimi (ince film numuneler için)

Kalitatif böbrek taşı analizi

Pole figure Artık gerilme (residual stres)

Kristal kalite analizi (rocking curve2)

İnce filmlerde çok katmanlı kalınlık, yoğunluk ve yüzey pürüzlüğü ölçümü

 

Not:

1 Toz numuneler 100 mikron altı öğütülmelidir.

2Kalite analizi yapılacak kristal düzleminin (hkl) parametreleri belirtilmelidir.

* Veri analizi için JADE 7.5 yazılımı kullanılmaktadır.