Üniversitemiz | Anasayfa | İletişim
 

Hızlı Menu

-Yönetim

-Personel

-Cihazlar

-Analiz Talep Formları 

-Analiz Ücretleri

 

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM,Zeiss)

 

ZEIS EVO 50: Çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlarla yüzeyin taranması prensibiyle çalışır.

En sık kullanıldığı biçimiyle, yüzeyden yayılan ikincil elektronlarla yapılan ölçüm, özellikle yüzeyin topografik yapısıyla ilişkili bir görüntü oluşturur.

Genel Özellikleri:

•SE ve BSE dedektör ile 7X-1.000.000X arası büyütme

•BSE dedektör ile faz farkına dayalı görüntü elde etme

•X ışınları kullanılarak yüzey renklendirme

 

Numune Hazırlamada Kullanılan Ataçmanlar:

•EMS 550X püskürtmeli kaplayıcı

•EMS 150 film kalınlık ölçümü

•EMS 850 kritik nokta kurutucu CA7625 karbon kaplama

 

Yapılan Uygulamalar:

•Kantitatif  analiz

•X-Ray line scan

•X-Ray dot mapping

•Au-Pd ve C kaplama